薄膜測量

該系統(tǒng)為單層膜測量提供了所需的測量工具，包括反射探頭和支架，可以測量的膜層厚度從 10 nm 到 50μm， 分辨率可達(dá) 1 nm，測量范圍從紫外 / 可 見到近紅外（200-1100 nm）。